ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮ — ಅನ್ವೇಷಣೆಯ ಇತಿಹಾಸ, ಛಾಯಾಗ್ರಹಣ, ಪರಿಣಾಮದ ಬಳಕೆ

ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಎಂದು ವ್ಯಾಖ್ಯಾನಿಸಲಾಗಿದೆ ಅನಿಲದಲ್ಲಿ ಒಂದು ರೀತಿಯ ವಿದ್ಯುತ್ ವಿಸರ್ಜನೆಅಧ್ಯಯನದ ವಸ್ತುವು ಹೆಚ್ಚಿನ ಆವರ್ತನದ ಪರ್ಯಾಯ ವಿದ್ಯುತ್ ಕ್ಷೇತ್ರಕ್ಕೆ ಒಡ್ಡಿಕೊಂಡಾಗ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗಳಲ್ಲಿ ಗಮನಿಸಲಾಗಿದೆ, ಆದರೆ ವಸ್ತು ಮತ್ತು ಎರಡನೇ ವಿದ್ಯುದ್ವಾರದ ನಡುವಿನ ಸಂಭಾವ್ಯ ವ್ಯತ್ಯಾಸವು ಹಲವಾರು ಹತ್ತಾರು ಸಾವಿರ ವೋಲ್ಟ್‌ಗಳನ್ನು ತಲುಪುತ್ತದೆ. ಕ್ಷೇತ್ರದ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದಲ್ಲಿನ ಏರಿಳಿತಗಳ ಆವರ್ತನವು 10 ರಿಂದ 100 kHz ವರೆಗೆ ಬದಲಾಗಬಹುದು ಮತ್ತು ಇನ್ನೂ ಹೆಚ್ಚಿನದಾಗಿರುತ್ತದೆ.

1939 ರಲ್ಲಿ, ಕ್ರಾಸ್ನೋಡರ್ನಲ್ಲಿ ಭೌತಚಿಕಿತ್ಸಕ ಸೆಮಿಯಾನ್ ಡೇವಿಡೋವಿಚ್ ಕಿರ್ಲಿಯನ್ (1898 - 1978) ಈ ವಿದ್ಯಮಾನದ ಬಗ್ಗೆ ಬಹಳ ಗಮನ ಹರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಈ ರೀತಿಯಾಗಿ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಛಾಯಾಚಿತ್ರ ಮಾಡುವ ಹೊಸ ವಿಧಾನವನ್ನು ಅವರು ಪ್ರಸ್ತಾಪಿಸಿದರು.

ಮತ್ತು ಈ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ವಿಜ್ಞಾನಿಯ ಗೌರವಾರ್ಥವಾಗಿ ಹೆಸರಿಸಲಾಗಿದ್ದರೂ ಮತ್ತು 1949 ರಲ್ಲಿ ಛಾಯಾಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ಪಡೆಯುವ ಹೊಸ ವಿಧಾನವಾಗಿ ಅವರಿಂದ ಪೇಟೆಂಟ್ ಪಡೆದಿದ್ದರೂ, ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಹೆಚ್ಚಿನದನ್ನು ಗಮನಿಸಿ, ವಿವರಿಸಿದ ಮತ್ತು ಪ್ರದರ್ಶಿಸುವ ಮೊದಲು ನಿಕೋಲಾ ಟೆಸ್ಲಾ (ನಿರ್ದಿಷ್ಟವಾಗಿ, ಮೇ 20, 1891 ರಂದು ಅವರು ನೀಡಿದ ಸಾರ್ವಜನಿಕ ಉಪನ್ಯಾಸದ ಸಮಯದಲ್ಲಿ), ಆದಾಗ್ಯೂ ಟೆಸ್ಲಾ ಅಂತಹ ವಿಸರ್ಜನೆಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಛಾಯಾಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳಲಿಲ್ಲ.

ಆರಂಭದಲ್ಲಿ, ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮವು ಅದರ ದೃಶ್ಯ ಅಭಿವ್ಯಕ್ತಿಗೆ ಮೂರು ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಗಳಿಗೆ ಬದ್ಧವಾಗಿದೆ: ಅನಿಲ ಅಣುಗಳ ಅಯಾನೀಕರಣ, ತಡೆಗೋಡೆ ಡಿಸ್ಚಾರ್ಜ್ನ ನೋಟ, ಹಾಗೆಯೇ ಶಕ್ತಿಯ ಮಟ್ಟಗಳ ನಡುವೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳ ಪರಿವರ್ತನೆಯ ವಿದ್ಯಮಾನ.

ಜೀವಂತ ಜೀವಿಗಳು ಮತ್ತು ನಿರ್ಜೀವ ವಸ್ತುಗಳು ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಗಮನಿಸಬಹುದಾದ ವಸ್ತುಗಳಂತೆ ವರ್ತಿಸಬಹುದು, ಆದರೆ ಮುಖ್ಯ ಸ್ಥಿತಿಯು ಹೆಚ್ಚಿನ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ಆವರ್ತನದ ವಿದ್ಯುತ್ ಕ್ಷೇತ್ರದ ಉಪಸ್ಥಿತಿಯಾಗಿದೆ.

ಪ್ರಾಯೋಗಿಕವಾಗಿ, ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಆಧರಿಸಿದ ಚಿತ್ರವು ದೊಡ್ಡ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಅನ್ವಯಿಸುವ ವಸ್ತು ಮತ್ತು ವಸ್ತುವನ್ನು ನಿರ್ದೇಶಿಸುವ ಸ್ವೀಕರಿಸುವ ಮಾಧ್ಯಮದ ನಡುವಿನ ಜಾಗದಲ್ಲಿ (ಗಾಳಿಯ ಅಂತರದಲ್ಲಿ) ವಿದ್ಯುತ್ ಕ್ಷೇತ್ರದ ಬಲದ ವಿತರಣೆಯ ಚಿತ್ರವನ್ನು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ. . ಈ ವಿಸರ್ಜನೆಯ ಕ್ರಿಯೆಯಿಂದ ಛಾಯಾಗ್ರಹಣದ ಎಮಲ್ಷನ್‌ನ ಮಾನ್ಯತೆ ಉಂಟಾಗುತ್ತದೆ. ವಿದ್ಯುತ್ ಚಿತ್ರವು ವಸ್ತುವಿನ ವಾಹಕ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳಿಂದ ಬಲವಾಗಿ ಪ್ರಭಾವಿತವಾಗಿರುತ್ತದೆ.

ಡೈಎಲೆಕ್ಟ್ರಿಕ್ ಸ್ಥಿರಾಂಕದ ವಿತರಣಾ ಮಾದರಿ ಮತ್ತು ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ಒಳಗೊಂಡಿರುವ ವಸ್ತುಗಳು ಮತ್ತು ಪರಿಸರದ ವಿದ್ಯುತ್ ವಾಹಕತೆ, ಹಾಗೆಯೇ ಸುತ್ತಮುತ್ತಲಿನ ಗಾಳಿಯ ಆರ್ದ್ರತೆ ಮತ್ತು ತಾಪಮಾನ ಮತ್ತು ಸುಲಭವಲ್ಲದ ಇತರ ಹಲವು ನಿಯತಾಂಕಗಳನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿ ಚಿತ್ರವು ವಿಸರ್ಜನೆಯಿಂದ ರೂಪುಗೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ತರಗತಿಯ ಪ್ರಯೋಗದ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗಳಲ್ಲಿ ಸಂಪೂರ್ಣವಾಗಿ ಗಣನೆಗೆ ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳಲು ನಿರ್ಧರಿಸಲು.

ವಾಸ್ತವವಾಗಿ, ಜೈವಿಕ ವಸ್ತುಗಳಿಗೆ ಸಹ, ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮವು ಜೀವಿಗಳ ಆಂತರಿಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಫಿಸಿಯೋಲಾಜಿಕಲ್ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಗಳಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದಂತೆ ಸ್ವತಃ ಸ್ಪಷ್ಟವಾಗಿಲ್ಲ, ಆದರೆ ಬಾಹ್ಯ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗಳೊಂದಿಗೆ ಗಮನಾರ್ಹ ಸಂಪರ್ಕದಲ್ಲಿ.

"ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಗ್ರಫಿ", ಇದನ್ನು 1891 ರಲ್ಲಿ ಬೆಲರೂಸಿಯನ್ ವಿಜ್ಞಾನಿ ಎಂದು ಕರೆದರು. ಯಾಕೋವ್ ಒಟ್ಟೊನೊವಿಚ್ ನಾರ್ಕೆವಿಚ್-ಯೋಡ್ಕೊ (1848-1905), ಇದನ್ನು ಮೊದಲೇ ಗಮನಿಸಲಾಗಿದ್ದರೂ, ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಅದನ್ನು ನಿಕಟವಾಗಿ ಅಧ್ಯಯನ ಮಾಡಲು ಪ್ರಾರಂಭಿಸುವವರೆಗೆ 40 ವರ್ಷಗಳವರೆಗೆ ಅದು ವ್ಯಾಪಕವಾಗಿ ತಿಳಿದಿರಲಿಲ್ಲ.

ಅದೇ ನಿಕೋಲಾ ಟೆಸ್ಲಾ (1956-1943) ಟೆಸ್ಲಾ ಟ್ರಾನ್ಸ್‌ಫಾರ್ಮರ್‌ನೊಂದಿಗಿನ ಪ್ರಯೋಗಗಳಲ್ಲಿ, ಮೂಲತಃ ಸಂದೇಶಗಳ ಪ್ರಸರಣಕ್ಕಾಗಿ ಉದ್ದೇಶಿಸಲಾಗಿತ್ತು, ಆಗಾಗ್ಗೆ ಮತ್ತು ಸ್ಪಷ್ಟವಾಗಿ "ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮ" ಎಂಬ ವಿಸರ್ಜನೆಯನ್ನು ಗಮನಿಸಿದರು.

ಅವರು ತಮ್ಮ ಉಪನ್ಯಾಸಗಳಲ್ಲಿ "ಟೆಸ್ಲಾ ಕಾಯಿಲ್" ಗೆ ಜೋಡಿಸಲಾದ ತಂತಿಯ ತುಂಡುಗಳಂತಹ ವಸ್ತುಗಳ ಮೇಲೆ ಮತ್ತು ಅವರ ಸ್ವಂತ ದೇಹದ ಮೇಲೆ ಈ ಪ್ರಕೃತಿಯ ಹೊಳಪನ್ನು ಪ್ರದರ್ಶಿಸಿದರು ಮತ್ತು ಈ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಸರಳವಾಗಿ "ಅಧಿಕ ಒತ್ತಡ ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ವಿದ್ಯುತ್ ಪ್ರವಾಹಗಳ ಪರಿಣಾಮ" ಎಂದು ಕರೆದರು. ಉದ್ವೇಗ". ಆವರ್ತನ." ಫೋಟೋಗಳಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದಂತೆ, ಟೆಸ್ಲಾ ಸ್ವತಃ ಸ್ಟ್ರೀಮರ್‌ಗಳೊಂದಿಗೆ ಛಾಯಾಗ್ರಹಣದ ಫಲಕಗಳನ್ನು ಬಹಿರಂಗಪಡಿಸಲಿಲ್ಲ, ಡಿಸ್ಚಾರ್ಜ್‌ಗಳನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಕ್ಯಾಮೆರಾದೊಂದಿಗೆ ಸೆರೆಹಿಡಿಯಲಾಗಿದೆ.

ಪರಿಣಾಮದಲ್ಲಿ ಆಸಕ್ತರಾದ ಸೆಮಿಯಾನ್ ಡೇವಿಡೋವಿಚ್ ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಅವರು ಟೆಸ್ಲಾ ಅವರ ಅನುರಣನ ಟ್ರಾನ್ಸ್‌ಫಾರ್ಮರ್ ಅನ್ನು ಸುಧಾರಿಸಿದರು, ಅದನ್ನು "ಹೈ-ಫ್ರೀಕ್ವೆನ್ಸಿ ಫೋಟೋಗ್ರಫಿ" ಪಡೆಯಲು ನಿರ್ದಿಷ್ಟವಾಗಿ ಮಾರ್ಪಡಿಸಿದರು ಮತ್ತು 1949 ರಲ್ಲಿ ಅವರು ಈ ಛಾಯಾಗ್ರಹಣ ವಿಧಾನಕ್ಕಾಗಿ ಲೇಖಕರ ಪ್ರಮಾಣಪತ್ರವನ್ನು ಸಹ ಪಡೆದರು. ಯಾಕೋವ್ ಒಟ್ಟೊನೊವಿಚ್ ನಾರ್ಕೆವಿಚ್-ಯೋಡ್ಕೊ ಅವರನ್ನು ಕಾನೂನುಬದ್ಧವಾಗಿ ಅನ್ವೇಷಕ ಎಂದು ಪರಿಗಣಿಸಲಾಗಿದೆ. ಆದರೆ ಈ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವನ್ನು ಪರಿಪೂರ್ಣಗೊಳಿಸಿದ್ದು ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಆಗಿರುವುದರಿಂದ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಿಕ್ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ಈಗ ಎಲ್ಲೆಡೆ ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ.

ಅದರ ಅಂಗೀಕೃತ ರೂಪದಲ್ಲಿ ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಉಪಕರಣವು ಫ್ಲಾಟ್ ಹೈ-ವೋಲ್ಟೇಜ್ ವಿದ್ಯುದ್ವಾರವನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಇದಕ್ಕೆ ಹೆಚ್ಚಿನ-ವೋಲ್ಟೇಜ್ ದ್ವಿದಳ ಧಾನ್ಯಗಳನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿನ ಆವರ್ತನದಲ್ಲಿ ಅನ್ವಯಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅವರ ವೈಶಾಲ್ಯವು 20 kV ತಲುಪುತ್ತದೆ. ಛಾಯಾಗ್ರಹಣದ ಫಿಲ್ಮ್ ಅನ್ನು ಮೇಲ್ಭಾಗದಲ್ಲಿ ಇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ಅದರ ಮೇಲೆ, ಉದಾಹರಣೆಗೆ, ಮಾನವ ಬೆರಳನ್ನು ಅನ್ವಯಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅಧಿಕ-ಆವರ್ತನದ ಅಧಿಕ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಅನ್ನು ಅನ್ವಯಿಸಿದಾಗ, ವಸ್ತುವಿನ ಸುತ್ತಲೂ ಕರೋನಾ ಡಿಸ್ಚಾರ್ಜ್ ಸಂಭವಿಸುತ್ತದೆ, ಅದು ಫಿಲ್ಮ್ ಅನ್ನು ಬೆಳಗಿಸುತ್ತದೆ.

ಇಂದು, ಕಿರ್ಲಿಯನ್ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಲೋಹದ ವಸ್ತುಗಳ ದೋಷಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚಲು ಮತ್ತು ಅದಿರು ಮಾದರಿಗಳ ಕ್ಷಿಪ್ರ ಭೌಗೋಳಿಕ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.